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                      SZT-I 平行四刀法 電容器薄膜方塊電阻測試儀
                  
    
                    
                
    
              
           
            
    
            
    
              
    
                
    SZT-I 平行四刀法 電容器薄膜方塊電阻測試儀
    
                
    產品型號:SZT-I
    
                
    負責人:張雅麗
     
                
    QQ:827928594
    
                
    手機:13937153969
    
                
                
              
    
            
    
          
    
          
    
            
    產品詳情
    
            
    
              
    SZT-I 平行四刀法 電容器薄膜方塊電阻測試儀
    一 、功能與結構特征概述
    薄膜方阻刀形測試臺
                          SZT-I型平行四刀法方阻測試臺
          基本功能：SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺，有四個平行刀型測試電極，配以四探針儀器，用以測試柔性半導體薄膜或金屬涂層薄膜方阻。
          基本組成：成套測試臺有四個平行刀型測試電極、測試臺架、儀器連接線纜等部件組成。
          配套與兼容：本測試臺兼容本公司suo有四探針儀器，如下表主要型號，也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。
               ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形測試臺適用產品部分型號及名稱列表
    序號
    型號
    名稱
    備注
    1
    ST2558A
    多功能數字式方阻測試儀
    柔性薄膜方阻測試zhuan用
    2
    ST2558B
    多功能數字式方阻測試儀
    柔性薄膜方阻測試zhuan用
    3
    ST2258A
    多功能數字式方阻測試儀
    柔性薄膜方阻測試zhuan用
    4
    ST2258B
    多功能數字式方阻測試儀
    柔性薄膜方阻測試zhuan用
    5
    ST2253
    數字式四探針測試儀
    柔性薄膜方阻測試zhuan用
    二、主要技術參數及說明
        1柔性薄膜方阻測試zhuan用
        2可測尺寸寬5～100mm,電壓刀距100mm，電流刀距130mm。
        3磷銅探刀，接觸良好可靠
        4 探刀為可快捷拆換型，方便生產線頻繁使用
        5 本公司可為顧客長期代購探針配件，價格優惠，服務周到
    三、使用方式，請參照各配套測試臺使用方式。

                
    
          
    
           
    
                
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