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產品概述:
ATP6750是一種高靈敏度、高透過率、空間分辨的成像光譜儀,它采用光路、零像差學系統設計,使其具有空間分辨特性,且靈敏度比常規
光纖光譜儀增強3-4倍,它采用大數值孔徑光學設計,可以接收光纖(數值孔徑為0.22)的全部光子。使其適合微光信號的分析,例如氣體分
析拉曼光譜成像儀、熒光光譜成像儀等微弱光的成像分析。
ATP6750采用高靈敏度深度制冷背照式CCD,從而降低了傳感器的噪聲,獲得了信噪比。
它通過USB 2.0將光譜數據輸出到PC。ATP6750采用+12VDC電源工作,電流約為4A。
型號 | 特征 |
ATP6750P | 制冷型紫外增強CCD,-10℃ |
ATP6750R | 制冷型紅外增強CCD,-10℃ |
ATP6750LT | 深度制冷型CCD,-30℃,2048X506 |
ATP6750DC | 超低溫制冷CCD,-70℃,2048X256 |
特點:
◆ 零像差透射光路設計,空間分辨率高
◆ 高靈敏度、高透過率
◆ 大數值空間,F數為1.2
◆ 探測器:超低溫制冷探測器
◆ 探測器像素:2048X264像素
◆ 光譜分辨率: 0.1-3 nm (取決于光譜范圍和狹縫寬度)
◆ 積分時間:0.2ms-1h
◆ 供電電源:DC 12V
◆ ADC:16bit
◆ 光纖輸入接口:SMA905
◆ 數據輸出接口: USB2.0 (High speed)
◆ 20針雙排可編程外擴接口
典型應用:
◆ 拉曼光譜儀
◆ 工業測量傳感器
◆ LED分光光度計
◆ 熒光光度計
◆ 反射率、透射率檢測
◆ 材料微區反射光譜檢測

型號 | CCD類型 | CCD制冷 | 特征 |
ATP6750LT | 2048X506 | TEC制冷, 至-30℃ | 深度制冷型CCD,-30℃,2048X506,超長積分時間 |
ATP6750P | 面陣背照式2048X64 | TEC制冷, 至-20℃ | 紫外優化,背照式面陣CCD,信噪比高,靈敏度高 |
ATP6750R | 面陣背照式2048X64 | 紅外優化,背照式面陣CCD,信噪比高,靈敏度高 | |
ATP6750DC | 面陣背照式2048X264 | TEC制冷, 至-70℃ | 信噪比高,積分時間可長達1小時 |