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    ST-20型方塊電阻測試儀

    ST-20型方塊電阻測試儀

    產品型號:ST-20

    負責人:張雅麗

    QQ:827928594

    手機:13937153969

    產品詳情

    ST-20型方塊電阻測試儀

        ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

    ◆ 特點:

    1

     采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定

    2

     低功耗

    3

     采用單個電池供電,帶電池欠壓指示

    4

     儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm

    5

     te制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

    6

     探頭帶抗靜電模塊

     

    ◆ 技術指標:

    測量范圍

    基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
      擴展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)

    測量不確定度

    ≤5%

    探針規格

     探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

    恒流源

     測量過程誤差:≤±0.8%

    電源

     9V疊層電池1節

     


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