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                      SM200 光學薄膜厚度測量儀
                  
    
                    
                
    
              
           
            
    
            
    
              
    
                
    SM200 光學薄膜厚度測量儀
    
                
    產品型號:SM200
    
                
    負責人:廖文麗
     
                
    QQ:907796517
    
                
    手機:15838001944
    
                
                
              
    
            
    
          
    
          
    
            
    產品詳情
    
            
    
              
    綜合概述：
    SM200是一款利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動薄膜厚度測繪儀。 它利用波長范圍寬為200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要
    薄膜有一定程度的透射，SM200就能根據反射回來的干涉光譜擬合計算出薄膜的厚度，以及其他光學常數如反射率、折射率和消光系數等，
    其厚度測繪范圍可以達到1nm~250um。
    SM200自動光學薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀結合算法
    技術，為用戶提供自動光學薄膜厚度測量儀。

    產品特征：
    非接觸式、非破壞性的測試系統；
    超長壽命光源，更高的發光效率；
    高分辨率、高靈敏度光譜儀，測量結果更準確可靠；
    軟件界面直觀，操作方便省時；
    歷史數據存儲，幫助用戶更好掌握結果；
    桌面式分布設計，適用場景豐富；
    維護成本低，保養方便；

    應用領域：
    基本上光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測繪，包含了電介質和半導體材料，包括：氧化硅、氮化層、類鉆薄膜、多晶硅、光刻
    膠、高分子、聚亞酰胺、非晶硅等。

    半導體鍍膜：光刻膠、氧化物、淡化層、絕緣體上硅、晶片背面研磨;
    液晶顯示：間隙厚度、聚酰亞胺、ITO透明導電膜;
    光學鍍膜：硬涂層、抗反射層；
    微電子系統：光刻膠、硅系膜狀物、印刷電路板；
    生物學：設備、Parylene


                
    
          
    
           
    
                
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