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    安捷倫科技推出的智能控制靈敏度X射線檢測器

    近日,安捷倫推出了一系列的智能控制靈敏度X射線衍射 CCD 檢測器。Eos S2、Atlas S2 和 Titan S2 CCD 檢測器分別具有 92 mm、135 mm 和 165 mm 的感光面積,并能根據研究樣品的衍射強度自動調整靈敏度。
      “智能控制靈敏度與數碼攝影中調節 ISO 非常相似,”安捷倫 XRD 總經理 Leigh Rees 說道,“智能測量系統包括 SSC,并且可以會切換到硬件 binning模式。這使得檢測器能根據衍射強弱自動調整靈敏度和動態范圍。通過這種的方法,我們能夠測量其它檢測器無法測量的衍射,并且能在更短的時間內獲得高質量的數據。”
      單晶 X 射線衍射系統不僅用于常規分析化學,甚至還可用于研究小分子和蛋白質衍射。安捷倫具有 20 年設計和生產專業單晶 X 射線衍射檢測器的歷史,其新型的檢測器是 S2 CCD。該檢測器目前在英國華威大學,隨后將在歐洲晶體會議上展示。
    發布時間: 2013-09-16

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