“ICP痕量分析儀器的研制和應用”研討會召開

　　參加本次研討會的嘉賓有工程院院士金國藩教授、工程院院士李正邦教授以及來自中鋼協、分析測試協會、儀器儀表學會、天津大學、中科院、地質科學院、北京礦冶研究總院、環境分析測試中心、北京理化分析測試中心的多位科學家。同時，科技部條財司條件處鄭健副處長、北京科學儀器裝備協作服務中心曹磊副主任和集團公司副總經理、北京納克董事長李波出席會議。

　　研討會上，李波董事長向專家介紹集團公司發展狀況和“十二五”規劃;鄭健副處長代表科技部條財司條件處介紹了“十二五”期間在“科學儀器自主創新”方面支持的重點方向和新舉措。陳吉文經理就“ICP痕量分析儀器的研制和應用—應用驅動的科學儀器自主創新模式探索”進行了匯報。

　　與會指導和專家在聽取了項目匯報，參觀了北京納克生產基地后，結合所從事的研究工作，介紹了所在的冶金、半導體、環境、地質礦產等領域對ICP痕量分析儀器的具體需求，認為開發此類儀器非常必要，并對北京納克ICP儀器研發工作以及整個產業發展提供了重要、明確的建議和意見。

　　本次研討會將對北京納克的產業發展規劃和研發工作起到重要的指導作用。